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    广州广电计量检测股份有限公司

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    • 车载芯片模块AECQ104认证;车规级认证测试、及技术服务

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    • 对应法规:AECQ104认证
      CNAS认可项目:是
    • 大规模多芯片模块车规AEC-Q104认证

      AEC-Q104

             AEC-Q104对多芯片模块的可靠性测试可细分为加速环境应力可靠性、加速寿命模拟可靠性、封装可靠性、晶圆制程可靠性、电学参数验证、缺陷筛查、包装完整性试验,且需要根据器件所能承受的温度等级选择测试条件。

             需要注意的是,第三方难以独立完成AEC-Q104的验证,需要晶圆供应商、封测厂配合完成,这更加考验对认证试验的整体把控能力。广电计量将根据客户的要求,依据标准对客户的IC进行评估,出具合理的认证方案,从而助力IC的可靠性认证。

             如果成功完成根据本文件各要点需要的测试结果,那么将允许供应商声称他们的零件通过了AEC Q104认证。供应商可以与客户协商,可以在样品尺寸和条件的认证上比文件要求的要放宽些,但是只有完成要求实现的时候才能认为零件通过了AEC Q104 认证。

             若模块中的所有器件(被动元器件、分立器件、芯片等)都以单独完成了AECQ认证,那么只需对模块进行AECQ104标准中H组测试项目,合格后即能申明模块整体通过AECQ104认证。

      Tier 1 : OEM车用模块/系统厂, 车用电子组件的End-User.

      Tier 2 : 使用/制造车用电子组件的厂商, 车用电子组件的Supplier.

      Tier 3 : 提供支持与服务给予电子行业, 车用电子的外包商.

      AECQ104认证测试周期:

      3-4个月,提供全面的认证计划、测试、报告等服务。

      AECQ100认证测试地点:

      广电计量广州总部、广电计量上海试验室。

      试验后元器件失效分析项目:

      ① 形貌分析技术:体视显微镜、金相显微镜、X射线透视、声学扫描显微镜、扫描电镜、透射电镜、聚焦离子束。

      ② 成分检测技术:X射线能谱EDX、俄歇能谱AES、二次离子质谱SIMS、光谱、色谱、质谱。

      ③ 电分析技术:I-V曲线、半导体参数、LCR参数、集成电路参数、频谱分析、ESD参数、电子探针、机械探针、绝缘耐压、继电器特性。

      ④ 开封制样技术:化学开封、机械开封、等离子刻蚀、反应离子刻蚀、化学腐蚀、切片。

      ⑤ 缺陷定位技术:液晶热点、红外热像、电压衬度、光发射显微像、OBIRCH。

            广州广电计量检测股份有限公司(GRGT)失效分析实验室AEC-Q技术团队,执行过大量的AEC-Q测试案例,积累了丰富的认证试验经验,可为您提供更专业、更可靠的AEC-Q认证试验服务。

      大规模芯片(IC)AEC-Q104认证测试业务咨询及技术交流:

      GRGT李工 138-0884-0060;

      lisz@grgtest . com


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